IEC 60191-6-16:2007
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-16: Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
发布时间:2007-04-26 实施时间:


IEC 60191-6-16:2007标准主要包括以下内容:

1. 术语和定义:该标准列出了与半导体器件测试和烧入相关的术语和定义,以便在标准中使用时能够准确理解。

2. 机械要求:该标准规定了半导体器件测试和烧入插座的机械要求,包括插座的尺寸、形状、材料、表面处理、引脚排列、引脚数量、引脚间距、引脚直径、引脚长度、引脚形状等。

3. 电气要求:该标准规定了半导体器件测试和烧入插座的电气要求,包括插座的电气特性、电气参数、电气性能等。

4. 环境要求:该标准规定了半导体器件测试和烧入插座的环境要求,包括插座的工作温度、工作湿度、耐热性、耐寒性、耐腐蚀性等。

5. 测试和烧入要求:该标准规定了半导体器件测试和烧入的要求,包括测试和烧入的方法、测试和烧入的参数、测试和烧入的时间、测试和烧入的环境等。

6. 标志和包装:该标准规定了半导体器件测试和烧入插座的标志和包装要求,包括插座的标志、包装的材料、包装的方式、包装的标志等。

IEC 60191-6-16:2007标准的实施可以提高半导体器件测试和烧入的可靠性和稳定性,减少测试和烧入过程中的故障率和损坏率,提高半导体器件的生产效率和产品质量。

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