IEC 60747-4:2007标准是半导体器件-离散器件系列标准的第4部分，主要规定了微波二极管和晶体管的术语、定义、符号、分类、性能、试验方法、封装和标记等方面的要求。该标准适用于微波二极管和晶体管的生产、测试和应用。

该标准首先对微波二极管和晶体管的术语和定义进行了详细的说明，包括了微波二极管和晶体管的基本结构、工作原理、性能指标等方面的内容。然后对微波二极管和晶体管进行了分类，包括了按照器件结构、工作频率、功率等方面的分类方法。

在性能方面，该标准规定了微波二极管和晶体管的主要性能指标，包括了频率响应、增益、噪声系数、输出功率、线性度等方面的要求。同时，该标准还规定了微波二极管和晶体管的试验方法，包括了静态电性能测试、动态电性能测试、温度特性测试等方面的内容。

在封装和标记方面，该标准规定了微波二极管和晶体管的封装形式、引脚排列、封装材料等方面的要求。同时，该标准还规定了微波二极管和晶体管的标记方法，包括了器件型号、生产厂家、生产日期等方面的内容。

总之，IEC 60747-4:2007标准对微波二极管和晶体管的生产、测试和应用提出了详细的要求，有助于提高微波二极管和晶体管的质量和可靠性，促进了微波器件的发展和应用。

相关标准
- IEC 60747-1:2006 半导体器件-离散器件-第1部分：总则
- IEC 60747-2:2006 半导体器件-离散器件-第2部分：晶体管
- IEC 60747-3:2006 半导体器件-离散器件-第3部分：二极管
- IEC 60747-5:2006 半导体器件-离散器件-第5部分：光电器件
- IEC 60747-6:2006 半导体器件-离散器件-第6部分：传感器