IEC 61193-2:2007
Quality assessment systems - Part 2: Selection and use of sampling plans for inspection of electronic components and packages
发布时间:2007-08-30 实施时间:


IEC 61193-2:2007是一项关于电子元器件和封装检验的质量评估系统标准,主要涉及抽样计划的选择和使用。该标准规定了抽样计划的种类和特点、应用范围和限制、实施和管理、评估和改进等方面的内容,以确保检验结果的可靠性和准确性。

电子元器件和封装是电子产品中不可或缺的组成部分,其质量直接影响到整个产品的性能和可靠性。为了保证电子元器件和封装的质量符合规定的标准和要求,需要进行检验和测试。而抽样检验是一种常用的检验方法,可以在保证检验结果可靠性的前提下,减少检验成本和时间。

IEC 61193-2:2007标准规定了多种抽样计划的选择和使用方法,包括简单随机抽样、系统抽样、分层抽样、多阶段抽样等。不同的抽样计划适用于不同的检验场景,可以根据实际情况进行选择和应用。同时,该标准还规定了抽样计划的应用范围和限制,以及实施和管理的要求,确保抽样计划的有效性和可行性。

除了抽样计划的选择和使用,IEC 61193-2:2007标准还规定了抽样计划的评估和改进方法。通过对抽样计划的评估,可以发现其中存在的问题和不足,进而进行改进和优化。这样可以不断提高抽样计划的可靠性和准确性,为电子元器件和封装的检验提供更加可靠的保障。

总之,IEC 61193-2:2007标准是一项非常重要的电子元器件和封装检验的质量评估系统标准,可以帮助企业提高产品质量,减少不良品率和成本,提高客户满意度和市场竞争力。

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