嵌入式系统是现代电子设备中不可或缺的一部分，它们通常由一个或多个集成电路组成。这些集成电路通常包含许多核心，每个核心都有自己的功能和接口。由于嵌入式系统的复杂性和集成电路的规模，测试嵌入式基于核心的集成电路变得越来越困难。因此，IEC 62528:2007标准提供了一种测试方法，以评估嵌入式基于核心的集成电路的可测试性。

该标准提供了一些测试覆盖率的指导原则，以帮助设计人员在设计过程中考虑测试需求。测试覆盖率是指测试用例能够覆盖的代码或功能的百分比。测试覆盖率越高，测试的可靠性就越高。该标准建议设计人员应该考虑以下测试覆盖率：

1. 语句覆盖率：测试用例能够覆盖的代码语句的百分比。
2. 判定覆盖率：测试用例能够覆盖的判定语句的百分比。
3. 条件覆盖率：测试用例能够覆盖的条件语句的百分比。
4. 路径覆盖率：测试用例能够覆盖的所有可能路径的百分比。

此外，该标准还提供了一些测试方法，以评估嵌入式基于核心的集成电路的可测试性。这些测试方法包括：

1. 逻辑仿真测试：使用仿真工具模拟电路行为，以检查电路是否按照预期工作。
2. 边界扫描测试：通过在集成电路的输入和输出端口之间插入扫描链，以便在测试期间读取和写入内部寄存器。
3. 功能测试：测试电路的功能是否按照预期工作。
4. 时序测试：测试电路的时序是否按照预期工作。
5. 故障模式和效应分析（FMEA）：通过分析可能的故障模式和它们的影响，以评估电路的可靠性。

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