半导体测试是半导体制造过程中的一个重要环节，它可以确保芯片的质量和可靠性。测试接口语言（STIL）是一种用于描述半导体测试程序的标准化语言。STIL可以描述测试向量、测试模式、测试序列等测试程序的各个方面，以及测试结果的分析和报告。STIL的标准化可以提高测试程序的可移植性和互操作性，从而降低测试成本和提高测试效率。

IEC 62526:2007是一项针对STIL的扩展标准。该标准定义了一组额外的语言特性和语法规则，以扩展STIL的功能和灵活性。这些扩展包括：

1. 支持多种测试模式：IEC 62526:2007扩展了STIL的测试模式描述，支持多种测试模式，包括扫描链、边缘触发器、逻辑模式等。

2. 支持多种测试向量格式：IEC 62526:2007扩展了STIL的测试向量描述，支持多种测试向量格式，包括二进制、十六进制、BCD等。

3. 支持多种测试序列：IEC 62526:2007扩展了STIL的测试序列描述，支持多种测试序列，包括循环、分支、跳转等。

4. 支持多种测试结果分析：IEC 62526:2007扩展了STIL的测试结果描述，支持多种测试结果分析，包括故障覆盖率、故障模式分析等。

5. 支持多种测试报告格式：IEC 62526:2007扩展了STIL的测试报告描述，支持多种测试报告格式，包括HTML、XML等。

IEC 62526:2007的扩展使得STIL更加灵活和功能强大，可以满足不同测试环境的需求。同时，IEC 62526:2007的标准化也促进了半导体测试的标准化和自动化，提高了测试效率和质量。

相关标准
- IEC 62279:2005 Railway applications – Communication, signalling and processing systems – Software for railway control and protection systems
- IEC 62304:2006 Medical device software – Software life cycle processes
- IEC 61508:2010 Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic safety-related systems
- IEC 61131-3:2013 Programmable controllers – Part 3: Programming languages
- IEC 61784-1:2010 Industrial communication networks – Profiles – Part 1: Fieldbus profiles