IEC 61967-6:2002/AMD1:2008标准主要包括以下内容：

1. 测量范围和测量方法：该标准规定了测量传导辐射的频率范围为150 kHz至1 GHz，采用磁探头法进行测量。测量时需要注意的一些因素包括磁探头的位置、方向、距离等。

2. 测量设备和仪器：该标准规定了测量设备和仪器的要求，包括磁探头、信号放大器、频谱分析仪等。这些设备和仪器需要满足一定的精度和灵敏度要求，以确保测量结果的准确性和可靠性。

3. 测量环境和条件：该标准规定了测量环境和条件的要求，包括电源、地面、屏蔽等。这些环境和条件需要满足一定的标准，以确保测量结果的可重复性和可比性。

4. 测量结果和分析：该标准规定了测量结果和分析的方法，包括数据处理、结果分析、报告编制等。这些方法需要满足一定的标准，以确保测量结果的可靠性和可比性。

总的来说，IEC 61967-6:2002/AMD1:2008标准是一项非常重要的标准，它为集成电路电磁辐射测量提供了一套完整的规范和方法，可以有效地保证电子设备的安全性和稳定性。

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