IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV 标准是一项针对集成电路电磁辐射的测量方法的标准。该标准主要针对频率在150 kHz到1 GHz之间的导电辐射进行测量，采用磁探针法进行测量。该标准适用于集成电路的设计、制造和测试等领域，旨在保证集成电路的电磁兼容性。

在实际应用中，集成电路的电磁辐射会对周围的电子设备和系统产生干扰，影响其正常工作。因此，对集成电路的电磁辐射进行测量和控制是非常重要的。IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV 标准提供了一种可靠的测量方法，可以帮助制造商和设计师确保其产品符合电磁兼容性要求。

该标准采用磁探针法进行测量，即通过在集成电路周围放置磁探针，测量其产生的磁场强度来确定其导电辐射水平。该方法具有简单、快速、准确等优点，可以有效地评估集成电路的电磁兼容性。

除了测量方法外，IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV 标准还规定了测量条件、测量设备、测量结果的处理和报告等方面的要求。这些要求可以帮助用户正确地进行测量，并确保测量结果的准确性和可比性。

总之，IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV 标准是一项非常重要的标准，可以帮助制造商和设计师确保其产品符合电磁兼容性要求。该标准的实施可以有效地降低电子设备和系统之间的干扰，提高其可靠性和稳定性。

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