IEC 60512-16-7:2008
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 16-7: Mechanical tests on contacts and terminations - Test 16g: Measurement of contact deformation after crimping
发布时间:2008-07-21 实施时间:


IEC 60512-16-7:2008标准的测试16g主要是针对压接后接触变形的测量。在电子设备连接器的制造过程中,压接是一种常见的连接方式,它可以将导体与接触件或端子连接起来。然而,压接过程中可能会导致接触件或端子的变形,从而影响连接的质量和可靠性。因此,测试16g旨在测量压接后接触件或端子的变形程度,以评估连接的质量和可靠性。

测试16g的具体步骤如下:

1. 准备测试样品:选择符合要求的电子设备连接器样品,并按照标准要求进行压接。

2. 测量接触件或端子的初始高度:使用合适的测量工具,测量接触件或端子的初始高度。

3. 进行压接:按照标准要求,使用合适的压接工具对连接器进行压接。

4. 测量接触件或端子的变形高度:使用合适的测量工具,测量接触件或端子的变形高度。

5. 计算接触件或端子的变形量:根据测量结果,计算接触件或端子的变形量。

6. 评估连接的质量和可靠性:根据变形量的大小,评估连接的质量和可靠性。

除了测试16g,IEC 60512-16-7:2008标准还包括其他机械测试,如测试16a:插拔力的测量、测试16b:插头和插座的耐久性测试、测试16c:插头和插座的耐热性测试等。这些测试可以全面评估电子设备连接器的质量和可靠性。

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