IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001+AMD2:2008 CSV
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-17: Testing and measurement techniques - Ripple on d.c. input power port immunity test
发布时间:2009-01-28 实施时间:
IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001+AMD2:2008 CSV是电磁兼容性测试和测量技术的国际标准,主要针对直流输入电源端口纹波免疫测试。该标准适用于所有类型的电子设备,包括计算机、通信设备、工业控制设备等。
该标准规定了测试设备、测试方法和测试程序,以确保电子设备在实际使用中能够抵御来自电源端口的纹波干扰。测试设备包括直流电源、信号发生器、功率放大器、滤波器等。测试方法包括在不同频率下对电子设备进行纹波干扰测试,以确定其免疫性能。测试程序包括测试前的准备工作、测试过程中的参数设置和数据记录,以及测试后的数据分析和评估。
该标准的实施可以有效提高电子设备的免疫性能,减少其受到电源端口纹波干扰的可能性,从而提高设备的可靠性和稳定性。同时,该标准也为电子设备的设计和制造提供了参考依据,有助于提高产品的质量和竞争力。
相关标准
- IEC 61000-4-2:2008 电磁兼容性-第4-2部分:测试和测量技术-静电放电免疫性测试
- IEC 61000-4-3:2006+AMD1:2007+AMD2:2010 CSV 电磁兼容性-第4-3部分:测试和测量技术-射频辐射场免疫性测试
- IEC 61000-4-4:2012 电磁兼容性-第4-4部分:测试和测量技术-瞬变传导免疫性测试
- IEC 61000-4-5:2014 电磁兼容性-第4-5部分:测试和测量技术-暂态电压免疫性测试
- IEC 61000-4-6:2013 电磁兼容性-第4-6部分:测试和测量技术-射频传导免疫性测试