IEC 60747-14-5:2010
Semiconductor devices - Part 14-5: Semiconductor sensors - PN-junction semiconductor temperature sensor
发布时间:2010-02-11 实施时间:


PN结半导体温度传感器是一种常见的温度传感器,它利用PN结的温度特性来测量温度。PN结半导体温度传感器具有响应速度快、精度高、线性度好等优点,被广泛应用于工业自动化、电子仪器仪表、医疗设备等领域。

IEC 60747-14-5:2010标准规定了PN结半导体温度传感器的技术要求和测试方法,以确保传感器的性能和可靠性。该标准要求传感器应具有以下特性:
1. 线性度好:在一定温度范围内,传感器的输出应与温度成线性关系。
2. 稳定性好:传感器的输出应在长期使用中保持稳定。
3. 灵敏度高:传感器的输出应对温度变化具有高灵敏度。
4. 响应速度快:传感器的响应时间应尽可能短。
5. 抗干扰能力强:传感器应对外界干扰具有一定的抗干扰能力。

IEC 60747-14-5:2010标准还规定了PN结半导体温度传感器的测试方法,包括:
1. 静态测试:在恒定温度下测量传感器的输出。
2. 动态测试:在温度变化过程中测量传感器的输出。
3. 稳态测试:在长期使用中测量传感器的输出稳定性。

除了技术要求和测试方法,IEC 60747-14-5:2010标准还规定了PN结半导体温度传感器的标记、包装和贮存要求。传感器应在标准温度和湿度条件下贮存,并在包装上标明相关信息,以便于使用和管理。

总之,IEC 60747-14-5:2010标准为PN结半导体温度传感器的设计、制造和测试提供了规范和指导,有助于提高传感器的性能和可靠性,促进传感器的应用和发展。

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