IEC 62562:2010标准规定了一种测量低损耗介质板复介电常数的方法，该方法使用腔体谐振法进行测量。该方法适用于介电常数在1.5到10之间，损耗因子小于0.01的低损耗介质板。该标准适用于电子、通信、无线电、雷达、微波、光学和其他领域的材料测试。

该标准要求使用的腔体必须是一个空心的金属盒子，内部有一个或多个谐振腔。在测试过程中，将待测样品放置在腔体中，并通过测量腔体的谐振频率和品质因数来计算样品的复介电常数。该标准还规定了测量过程中的环境条件和测试设备的要求。

IEC 62562:2010标准的主要优点是测量结果准确可靠，适用于各种类型的低损耗介质板。该标准还提供了一种标准化的测试方法，使得不同实验室之间的测试结果可以进行比较和验证。

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