IEC 62562:2010
Cavity resonator method to measure the complex permittivity of low-loss dielectric plates
发布时间:2010-02-18 实施时间:


IEC 62562:2010标准规定了一种用于测量低损耗介质板复介电常数的腔体谐振法。该方法基于腔体谐振器的共振频率与介质板的复介电常数之间的关系。该标准适用于介电常数在1.5到50之间,损耗因子小于0.01的低损耗介质板。

该标准要求使用的腔体谐振器必须是一个空心的金属盒子,内部有一个或多个谐振模式。在测量过程中,将介质板放置在腔体谐振器的中心位置,然后通过改变腔体谐振器的频率来寻找共振频率。通过测量共振频率和腔体谐振器的尺寸,可以计算出介质板的复介电常数。

该标准还规定了测量过程中的一些要求,包括腔体谐振器的尺寸、介质板的尺寸和形状、测量温度和湿度等。此外,该标准还提供了一些计算公式和数据处理方法,以确保测量结果的准确性和可重复性。

IEC 62562:2010标准适用于电子、通信、无线电、雷达、微波、光学和其他领域的材料研究和生产。该标准的应用可以帮助研究人员和工程师了解材料的电学性质,从而更好地设计和制造电子器件和系统。

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