集成电路在现代电子设备中扮演着至关重要的角色，但是在实际应用中，由于电路之间的相互干扰，可能会导致电路性能下降或者失效。因此，为了保证电子设备的正常运行，需要对集成电路进行电磁兼容性测试，以确保其能够在电磁环境中正常工作。

IEC 62132-2:2010是一项关于集成电路电磁兼容性测量的标准，主要介绍了使用TEM电池和宽带TEM电池方法进行辐射免疫测量的技术要求和测试程序。其中，TEM电池是一种用于模拟电磁场的测试设备，它可以产生一个均匀的电磁场，用于测试集成电路的辐射免疫性能。而宽带TEM电池则是一种用于产生宽带电磁场的测试设备，可以模拟更加复杂的电磁环境，用于测试集成电路在复杂电磁环境下的免疫性能。

IEC 62132-2:2010标准中，对于TEM电池和宽带TEM电池的技术要求和测试程序进行了详细的描述。其中，包括了测试设备的构造、测试环境的要求、测试程序的步骤等内容。此外，该标准还对测试结果的判定进行了说明，以便测试人员能够准确地评估集成电路的辐射免疫性能。

需要注意的是，IEC 62132-2:2010标准只是针对集成电路的辐射免疫性能进行测试，而并不包括其他类型的电磁兼容性测试，如传导免疫性能测试等。因此，在进行电磁兼容性测试时，需要根据实际情况选择相应的测试方法和标准。

相关标准
- IEC 61000-4-3:2006 电磁兼容性（EMC）-第4-3部分：辐射免疫性试验
- IEC 61000-4-20:2008 电磁兼容性（EMC）-第4-20部分：直接耦合电源线试验
- IEC 61000-4-21:2006 电磁兼容性（EMC）-第4-21部分：复杂电缆耦合试验
- IEC 61000-4-22:2010 电磁兼容性（EMC）-第4-22部分：闪烁光耦合试验
- IEC 61000-4-23:2010 电磁兼容性（EMC）-第4-23部分：静电放电试验