IEC 61967-6:2002/COR1:2010标准适用于各种类型的集成电路，包括数字、模拟和混合信号集成电路。该标准的主要目的是测量集成电路在其工作条件下的导电辐射，以评估其电磁兼容性能。导电辐射是指集成电路在工作时通过电源和信号线等导体向外辐射的电磁波。

该标准采用磁探针法进行测量，即通过在集成电路周围放置磁探针，测量磁场强度来评估导电辐射。测量时需要考虑磁探针的灵敏度、方向性和频率响应等因素，并进行校准。测量结果应该在一定的频率范围内进行，以便评估集成电路在不同频率下的导电辐射性能。

IEC 61967-6:2002/COR1:2010标准还规定了测量时的测试设备和测试环境要求，包括测试室的电磁环境、测试设备的校准和验证等。此外，该标准还提供了测量结果的处理方法和报告要求，以便进行数据分析和比较。

该标准的实施可以帮助集成电路制造商和设计者评估其产品的电磁兼容性能，以满足国际标准和法规的要求。此外，该标准还可以帮助测试机构和认证机构进行集成电路的电磁兼容性测试和认证。

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