石英晶体元件是一种常用的电子元件，广泛应用于各种电子设备中。在石英晶体元件的设计和制造过程中，需要对其参数进行测量和分析，以确保其性能和质量。其中，负载谐振频率和有效负载电容是石英晶体元件的两个重要参数，对其性能和应用有着重要的影响。

负载谐振频率是指石英晶体元件在特定负载电容下的谐振频率，是石英晶体元件的一个重要特性参数。有效负载电容是指石英晶体元件在实际应用中所受到的等效负载电容，也是石英晶体元件的一个重要参数。准确测量负载谐振频率和有效负载电容对于石英晶体元件的设计和应用具有重要意义。

IEC 60444-11:2010提供了一种标准化的测量方法，使用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率fL和有效负载电容CLeff。该方法基于自动网络分析技术，通过测量石英晶体元件在不同负载电容下的S参数，计算出负载谐振频率和有效负载电容。同时，该方法还考虑了误差校正的影响，以提高测量结果的准确性和可重复性。

具体测量步骤如下：

1. 将石英晶体元件连接到自动网络分析仪上，并设置测量参数。

2. 在不同的负载电容下，测量石英晶体元件的S参数，并记录测量结果。

3. 根据测量结果，计算出负载谐振频率fL和有效负载电容CLeff。

4. 进行误差校正，以提高测量结果的准确性和可重复性。

通过使用IEC 60444-11:2010提供的标准化测量方法，可以准确测量石英晶体元件的负载谐振频率和有效负载电容，为石英晶体元件的设计和应用提供重要的参考数据。

相关标准
- IEC 60444-1:2010——石英晶体元件参数测量 第1部分：一般规定
- IEC 60444-2:2010——石英晶体元件参数测量 第2部分：测量方法
- IEC 60444-3:2010——石英晶体元件参数测量 第3部分：测量电路
- IEC 60444-4:2010——石英晶体元件参数测量 第4部分：测量设备
- IEC 60444-5:2010——石英晶体元件参数测量 第5部分：测量条件