Michelson 干涉仪单波长计量仪是一种用于测量光波长或光频的光学测量仪器。它利用 Michelson 干涉仪的原理，通过测量干涉条纹的移动来计算光波长或光频。由于其测量精度高、测量范围广，因此被广泛应用于光学测量领域。

然而，由于 Michelson 干涉仪单波长计量仪的测量结果受到多种因素的影响，如环境温度、机械振动等，因此需要进行定期校准以确保其测量结果的准确性和可靠性。IEC 62129-2:2011 标准就是为了规定 Michelson 干涉仪单波长计量仪的校准方法和程序，以确保其测量结果的准确性和可靠性。

IEC 62129-2:2011 标准规定了 Michelson 干涉仪单波长计量仪的校准方法和程序，包括校准前的准备工作、校准过程中的测量和计算、校准后的数据处理和结果判定等。其中，校准前的准备工作包括检查仪器的外观和功能是否正常、检查仪器的光路是否清洁、检查仪器的环境温度和湿度等；校准过程中的测量和计算包括测量干涉条纹的移动、计算光波长或光频等；校准后的数据处理和结果判定包括对测量数据进行统计分析、判断校准结果是否合格等。

IEC 62129-2:2011 标准的实施可以有效提高 Michelson 干涉仪单波长计量仪的测量精度和可靠性，保证其在光学测量领域的应用效果。同时，该标准的实施也可以促进国际间的技术交流和合作，推动光学测量技术的发展和进步。

相关标准
- IEC 62129-1:2011 Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments - Part 1: Optical spectrum analyzer calibration
- IEC 61341:1994 Calibration of laser beam power meters and energy meters for laser welding and cutting
- ISO 17025:2017 General requirements for the competence of testing and calibration laboratories
- ISO 5725-1:1994 Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results - Part 1: General principles and definitions
- GB/T 17215.322-2008 光学仪器 校准 第322部分：单波长计量仪