随着集成电路技术的不断发展，集成度越来越高，电路中的电磁辐射问题也越来越突出。电磁辐射不仅会对电路本身造成干扰，还会对周围的其他电子设备和系统造成干扰，甚至会对人体健康产生影响。因此，对集成电路的电磁辐射进行测量和控制是非常必要的。

IEC 61967-8:2011是一项关于集成电路电磁辐射测量的标准，主要介绍了IC平行线方法的测量原理、测量设备、测量步骤、测量结果的处理等内容。IC平行线方法是一种常用的电磁辐射测量方法，它通过在集成电路周围放置平行线天线，测量电路辐射出的电磁波信号，从而评估电路的辐射性能。

该标准规定了IC平行线方法的测量频率范围、测量距离、测量天线的要求等。在进行测量前，需要对测量设备进行校准，确保测量结果的准确性。测量时需要注意避免外界干扰，如电磁场干扰、地面反射等。测量结果需要进行处理，包括数据分析、结果评估等。

IEC 61967-8:2011适用于各种类型的集成电路，包括数字、模拟、混合信号和射频集成电路。该标准的实施可以帮助电子设备制造商和设计人员评估集成电路的辐射性能，从而优化电路设计，提高电路的抗干扰能力，减少电磁辐射对周围环境和人体的影响。

相关标准
- IEC 61967-1:2006 集成电路-电磁辐射测量-第1部分：总则
- IEC 61967-2:2006 集成电路-电磁辐射测量-第2部分：测量设备
- IEC 61967-3:2006 集成电路-电磁辐射测量-第3部分：测量方法和测量结果的处理
- IEC 61967-4:2006 集成电路-电磁辐射测量-第4部分：测量结果的评估
- IEC 61967-5:2006 集成电路-电磁辐射测量-第5部分：数字集成电路的测量方法