超导性是一种特殊的物理现象，指的是某些物质在低温下电阻为零的现象。超导材料具有很多优异的性能，如高电导率、高磁场承受能力、低能耗等，因此在电子器件、磁共振成像、磁悬浮等领域有着广泛的应用。超导薄膜是超导材料的一种形式，具有良好的可控性和可制备性，因此在超导电子器件中得到了广泛的应用。

超导薄膜的性能研究需要对其电子特性进行测量，其中本征表面阻抗是一个重要的参数。本征表面阻抗是指超导薄膜表面的电阻，是超导薄膜的一个重要性能指标。IEC 61788-15:2011标准规定了测量微波频率下超导薄膜的本征表面阻抗的方法和要求。

本标准要求使用微波谐振腔测量超导薄膜的本征表面阻抗。测量时需要将超导薄膜置于微波谐振腔中，通过测量谐振腔的谐振频率和品质因数来计算超导薄膜的本征表面阻抗。本标准还规定了测量时的环境条件、测量设备的要求、数据处理方法等。

IEC 61788-15:2011标准的实施可以保证超导薄膜的性能测量结果的准确性和可比性，为超导薄膜的制备和性能研究提供了重要的技术支持。同时，本标准的实施也有助于超导电子器件的设计和制造，提高超导电子器件的性能和可靠性。

相关标准
- IEC 61788-1:2003 超导性-第1部分：术语和符号
- IEC 61788-4:2003 超导性-第4部分：电子特性测量-微波频率下超导薄膜的复合电阻率
- IEC 61788-5:2003 超导性-第5部分：电子特性测量-微波频率下超导薄膜的复合电导率
- IEC 61788-6:2003 超导性-第6部分：电子特性测量-微波频率下超导薄膜的复合介电常数
- IEC 61788-7:2003 超导性-第7部分：电子特性测量-微波频率下超导薄膜的复合磁导率