晶须是一种微小的金属结构，通常由锡、铅、铜等金属材料形成。它们通常在电子设备中使用，例如半导体器件、电子连接器等。晶须的存在可能会导致电子设备的故障，因此需要进行测试以确保设备的可靠性和稳定性。

IEC 60512-16-21:2012标准中的测试16u是一种通过施加外部机械应力来测试连接器中晶须的方法。该测试方法旨在模拟连接器在使用过程中可能遇到的应力，例如振动、温度变化等。测试过程中，连接器将被暴露在高温高湿的环境中，并施加机械应力，以模拟连接器在使用过程中可能遇到的应力。测试完成后，连接器将被检查以确定是否存在晶须。

IEC 60512-16-21:2012标准的测试16u是一种非常重要的测试方法，可以帮助制造商确保其连接器的可靠性和稳定性。通过测试连接器中的晶须，制造商可以确定连接器是否适合在各种应力环境下使用，并采取必要的措施来防止晶须的形成。

相关标准
- IEC 60512-16-1:2008电子设备连接器-测试和测量-第16-1部分：一般规定
- IEC 60512-16-2:2008电子设备连接器-测试和测量-第16-2部分：接触电阻和电气连通性测试
- IEC 60512-16-3:2008电子设备连接器-测试和测量-第16-3部分：机械耐久性测试
- IEC 60512-16-4:2008电子设备连接器-测试和测量-第16-4部分：环境测试
- IEC 60512-16-5:2008电子设备连接器-测试和测量-第16-5部分：电磁兼容性测试