集成电路是现代电子产品中不可或缺的组成部分，但在实际应用中，集成电路可能会受到来自外部电磁场的干扰，从而导致电路性能下降或失效。因此，为了保证集成电路的正常工作，需要对其进行电磁兼容性测试，以评估其对外部电磁场的抗干扰能力。

辐射免疫测量是电磁兼容性测试中的一种重要方法，它主要用于评估集成电路在外部电磁场辐射下的抗干扰能力。IC带线法是辐射免疫测量中的一种常用方法，它通过在集成电路周围布置一组带线，模拟外部电磁场的辐射，从而评估集成电路的抗干扰能力。

IEC 62132-8:2012规定了IC带线法的测量方法和测试程序，主要包括以下内容：

1. 测试设备和测试环境的要求：包括测试设备的选择、测试环境的建立和校准等。

2. IC带线法的测量方法：包括IC带线的布置、测试信号的产生和调节、测试信号的注入和测量等。

3. 测试程序的要求：包括测试前的准备工作、测试过程中的注意事项和测试后的数据处理等。

4. 测试结果的评估方法：包括测试结果的分析和判定，以及测试报告的编制等。

IEC 62132-8:2012适用于各种类型的集成电路，包括数字、模拟和混合信号集成电路。该标准的实施可以帮助制造商和用户评估集成电路的电磁兼容性，提高产品的可靠性和稳定性，从而促进电子产品的发展和应用。

相关标准
- IEC 61000-4-3:2006 电磁兼容性（EMC）-第4-3部分：辐射免疫性试验
- IEC 62132-1:2015 集成电路-电磁兼容性测量-第1部分：总则
- IEC 62132-2:2017 集成电路-电磁兼容性测量-第2部分：传导免疫测量-IC引脚法
- IEC 62132-3:2017 集成电路-电磁兼容性测量-第3部分：传导免疫测量-IC带线法
- IEC 62132-4:2017 集成电路-电磁兼容性测量-第4部分：传导免疫测量-IC板法