静电放电是半导体器件在生产、运输、存储和使用过程中常见的一种故障形式。机器模型静电放电是指在半导体器件表面产生的静电放电，其能量范围在0.1 J到10 J之间。机器模型静电放电敏感性测试是评估半导体器件对机器模型静电放电的敏感性的一种方法。

IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV标准规定了机器模型静电放电敏感性测试的方法和程序。该标准要求使用机器模型静电放电发生器对半导体器件进行测试。测试时，将机器模型静电放电发生器的电极接触到半导体器件的引脚或其他电气接口上，产生静电放电。测试时，应按照标准规定的测试条件进行测试，包括测试温度、相对湿度、测试电压等。

该标准还规定了机器模型静电放电敏感性测试的评估方法。测试结果应根据半导体器件的性能参数进行评估，包括器件的电气参数、外观、功能等。测试结果应记录在测试报告中，包括测试条件、测试结果、评估方法等。

IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV标准的实施可以帮助半导体器件制造商和使用者评估半导体器件对机器模型静电放电的敏感性，提高半导体器件的可靠性和稳定性。

相关标准
- IEC 60749-26:2007+AMD1:2012 CSV Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
- IEC 61340-2-3:2016 Electrostatics - Part 2-3: Methods of test for determining the resistance and resistivity of solid materials used to avoid electrostatic charge accumulation
- IEC 61340-5-1:2016 Electrostatics - Part 5-1: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena - General requirements
- IEC 61340-5-2:2016 Electrostatics - Part 5-2: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena - User guide
- IEC 61340-5-3:2016 Electrostatics - Part 5-3: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena - Properties and requirements classification for packaging materials