光学电路板是一种将光学元件和电子元件集成在一起的板状器件，用于光通信、光计算和光存储等领域。为了确保光学电路板的性能符合要求，需要进行各种测试和测量。IEC 62496-2-4:2013规定了无输入/输出光纤光学电路板的光传输测试方法。

该标准要求使用光学波长为1310 nm和1550 nm的光源进行测试。测试时，需要将光源连接到光学电路板的输入端口，并将光功率计连接到输出端口。通过测量输出端口的光功率，可以计算出光学电路板的传输损耗。此外，还需要测量光学电路板的反射损耗和插入损耗。

在测试过程中，需要注意以下几点：

1. 光源的功率应符合要求，并且应在测试前进行校准。

2. 光纤连接应保持干净，并且应使用适当的连接器。

3. 光功率计应在测试前进行校准，并且应使用适当的校准标准。

4. 测试时应避免光学电路板受到机械或热应力。

5. 测试结果应记录并保存，以备将来参考。

IEC 62496-2-4:2013的实施可以帮助制造商和用户确保光学电路板的性能符合要求，并且可以提高光学电路板的质量和可靠性。

相关标准
- IEC 62496-1:2010 光学电路板基本测试和测量程序 第1部分：总则
- IEC 62496-2-1:2010 光学电路板基本测试和测量程序 第2-1部分：光学性能测试
- IEC 62496-2-2:2010 光学电路板基本测试和测量程序 第2-2部分：电学性能测试
- IEC 62496-2-3:2010 光学电路板基本测试和测量程序 第2-3部分：机械性能测试
- IEC 61753-1:2018 光纤通信系统和无源光学器件 标准化试验程序 第1部分：一般程序