IEC 62860:2013
Test methods for the characterization of organic transistors and materials
发布时间:2013-08-05 实施时间:
有机晶体管是一种新型的半导体器件,具有低成本、柔性、可印刷等优点,因此在电子、光电子、生物医学等领域有着广泛的应用前景。为了研究、开发和生产高性能的有机晶体管和材料,需要对其进行全面的测试和评估。IEC 62860:2013 就是为了满足这一需求而制定的国际标准。
IEC 62860:2013 标准规定了有机晶体管和材料的测试方法,包括电学、光学、热学和力学等方面的测试方法。其中,电学测试是最为重要的一项测试,包括场效应晶体管(FET)的测试和有机薄膜晶体管(OFET)的测试。在FET测试中,需要测量晶体管的电流-电压(I-V)特性、迁移率、截止频率等参数;在OFET测试中,需要测量晶体管的电流-电压特性、迁移率、阈值电压等参数。此外,还需要对有机晶体管和材料进行光学、热学和力学等方面的测试,以评估其性能和稳定性。
IEC 62860:2013 标准的实施可以提高有机晶体管和材料的测试准确性和可重复性,促进有机晶体管和材料的研究、开发和生产。该标准适用于有机晶体管和材料的研究、开发和生产过程中的测试,可以为有机晶体管和材料的应用提供可靠的技术支持。
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