航空电子设备在飞行过程中会受到大气辐射的影响，这种影响可能会导致单粒子效应，从而影响设备的性能和可靠性。为了确保航空电子设备在大气辐射环境下的可靠性和稳定性，IEC 62396-4:2013 标准提供了一套设计过程管理的方法。

该标准主要关注高压电子设计，包括高压电源、高压放大器、高压开关等。标准要求设计人员在设计过程中考虑单粒子效应的影响，并采取相应的措施来减轻这种影响。具体来说，标准要求设计人员采用以下措施：

1. 采用硅材料的器件，因为硅材料对单粒子效应的敏感度较低；
2. 采用多个器件并联的方式，以减轻单粒子效应的影响；
3. 采用多级放大器的方式，以减轻单粒子效应的影响；
4. 采用电压降低器的方式，以减轻单粒子效应的影响；
5. 采用电容器的方式，以减轻单粒子效应的影响。

此外，标准还要求设计人员在设计过程中考虑设备的抗辐射性能，并采取相应的措施来提高设备的抗辐射性能。具体来说，标准要求设计人员采用以下措施：

1. 采用抗辐射材料；
2. 采用抗辐射电路设计；
3. 采用抗辐射测试和验证。

总之，IEC 62396-4:2013 标准提供了一套设计过程管理的方法，以确保航空电子设备在大气辐射环境下的可靠性和稳定性。该标准的实施可以提高航空电子设备的抗辐射性能，从而提高设备的可靠性和稳定性。

相关标准
- IEC 62396-1:2011 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 1: Overview
- IEC 62396-2:2011 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Single event effects
- IEC 62396-3:2011 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 3: Verification of single event effects hardened design and technology
- IEC 60749-34:2014 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Neutron irradiation test
- IEC 62396-5:2013 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 5: Design of digital systems