航空电子系统是现代航空器中不可或缺的一部分，它们在飞行过程中承担着重要的任务。然而，航空电子系统在高空中会受到大气辐射的影响，这可能会导致单粒子效应（SEE）的发生。单粒子效应是指由于单个粒子的撞击而导致的电子设备故障，这种故障可能会导致系统的失效或降低系统的性能。

为了解决这个问题，IEC 62396-3:2013 标准提供了一种方法，以便在设计和开发航空电子系统时，能够考虑到大气辐射效应对系统的影响。该标准要求在系统设计的早期阶段就要考虑到大气辐射效应，并采取相应的措施来减轻其影响。这些措施包括使用抗辐射材料、增加系统的冗余度、采用故障检测和纠正技术等。

此外，IEC 62396-3:2013 标准还要求对航空电子系统进行单粒子效应测试，以评估系统的可靠性和稳定性。这些测试应该在系统设计的早期阶段进行，以便在系统开发的后期进行必要的修改和改进。

总之，IEC 62396-3:2013 标准为航空电子系统的设计和开发提供了一种方法，以便考虑到大气辐射效应对系统的影响。通过采取相应的措施和进行单粒子效应测试，可以提高系统的可靠性和稳定性，从而确保航空电子系统在高空中的正常运行。

相关标准
- IEC 62396-1:2011 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 1: Ionizing radiation
- IEC 62396-2:2011 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: High-energy neutrons
- IEC 60749-34:2014 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Neutron irradiation test
- IEC 62396-4:2015 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 4: Single event effects (SEE) characterization
- IEC 62396-5:2015 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 5: Single event effects (SEE) prediction