IEC TS 62132-9:2014标准规定了一种表面扫描法，用于测量集成电路在电磁场环境下的辐射免疫性能。该方法通过在集成电路表面扫描电磁场，以确定集成电路的辐射免疫性能。该标准要求使用特定的测试设备和测试程序，以确保测试结果的准确性和可重复性。

该标准要求在测试过程中，应使用标准化的测试设备和测试程序。测试设备应符合IEC 61000-4-3标准的要求，测试程序应符合IEC 62132-1标准的要求。测试设备和测试程序的标准化要求，可以确保测试结果的准确性和可重复性。

在测试过程中，应使用特定的测试方法和测试参数。测试方法应符合IEC 62132-1标准的要求，测试参数应根据集成电路的特性和测试要求进行选择。测试方法和测试参数的选择，可以确保测试结果的准确性和可重复性。

在测试过程中，应注意测试环境的控制和测试设备的校准。测试环境应符合IEC 61000-4-3标准的要求，测试设备应定期进行校准，以确保测试结果的准确性和可靠性。

该标准还要求在测试过程中，应记录测试结果和测试条件。测试结果应包括测试数据和测试报告，测试条件应包括测试环境、测试设备和测试参数等。测试结果和测试条件的记录，可以为后续的测试和分析提供参考。

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