设备嵌入式基板是指在设备中嵌入的电路板，通常用于连接各种电子元件和芯片。为了确保设备嵌入式基板的质量和可靠性，需要进行各种测试。IEC TS 62878-2-4:2015为设备嵌入式基板的测试提供了指南，其中包括测试元素组（TEG）的定义、分类和应用等方面。

测试元素组是指一组测试元素，用于测试设备嵌入式基板的特定方面。根据IEC TS 62878-2-4:2015的定义，测试元素组可以分为以下几类：

1. 电气测试元素组：用于测试设备嵌入式基板的电气性能，如电阻、电容、电感等。

2. 信号完整性测试元素组：用于测试设备嵌入式基板的信号完整性，如信号传输速率、信号幅度等。

3. 热测试元素组：用于测试设备嵌入式基板的热性能，如温度分布、热传导等。

4. 机械测试元素组：用于测试设备嵌入式基板的机械性能，如弯曲、振动等。

5. 光学测试元素组：用于测试设备嵌入式基板的光学性能，如透光率、反射率等。

IEC TS 62878-2-4:2015还提供了测试元素组的应用指南，包括测试元素组的选择、测试元素组的布局和测试元素组的测量等方面。此外，该标准还介绍了测试元素组的标准化和认证等问题。

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