IEC 61726:2015标准是一项用于测量电缆组件、电缆、连接器和被动微波元件屏蔽衰减的标准。该标准使用反射室法进行测量，适用于频率范围从30 MHz到18 GHz的电缆组件、电缆、连接器和被动微波元件的屏蔽衰减测量。

反射室法是一种测量电缆组件、电缆、连接器和被动微波元件屏蔽衰减的方法。该方法使用一个反射室来模拟无限大的空间，反射室内的信号会反射多次，从而使信号在反射室内达到均匀分布。通过在反射室内放置被测物品并测量反射室内的信号强度，可以计算出被测物品的屏蔽衰减。

IEC 61726:2015标准规定了反射室法测量电缆组件、电缆、连接器和被动微波元件屏蔽衰减的具体步骤和要求。其中包括反射室的要求、测试设备的要求、测试方法的要求等。该标准还规定了测量结果的计算方法和报告要求。

IEC 61726:2015标准适用于频率范围从30 MHz到18 GHz的电缆组件、电缆、连接器和被动微波元件的屏蔽衰减测量。该标准适用于各种类型的电缆组件、电缆、连接器和被动微波元件，包括同轴电缆、平衡电缆、微带线、波导、天线等。

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