IEC 62132-1:2015标准主要包括以下内容：

1. 术语和定义：该标准列出了与集成电路电磁兼容性测量相关的术语和定义，以便在标准中使用时能够准确理解。

2. 一般条件：该标准规定了集成电路电磁兼容性测量的一般条件，包括测试环境、测试设备、测试方法等。

3. 测量方法：该标准规定了集成电路电磁兼容性测量的测量方法，包括辐射干扰测量和传导干扰测量。

4. 测量结果的表示：该标准规定了集成电路电磁兼容性测量结果的表示方法，包括测量数据的处理和分析。

5. 报告：该标准规定了集成电路电磁兼容性测量报告的内容和格式。

6. 附录：该标准的附录中列出了一些与集成电路电磁兼容性测量相关的参考文献和符号。

IEC 62132-1:2015标准的适用范围包括：

1. 集成电路的辐射和传导干扰测量。

2. 集成电路的电磁兼容性测量。

3. 集成电路在电磁环境下的正常工作和可靠性。

4. 集成电路电磁兼容性测量的一般条件和定义。

5. 集成电路电磁兼容性测量结果的表示和报告。

IEC 62132-1:2015标准的应用可以帮助企业和组织确保其集成电路在电磁环境下的正常工作和可靠性，从而提高产品的质量和可靠性，降低产品的故障率和维修成本。

相关标准
- IEC 61000-4-2:2008 电磁兼容性（EMC）-第4-2部分：静电放电（ESD）抗扰度试验
- IEC 61000-4-3:2006 电磁兼容性（EMC）-第4-3部分：辐射抗扰度试验
- IEC 61000-4-4:2012 电磁兼容性（EMC）-第4-4部分：传导抗扰度试验
- IEC 61000-4-5:2014 电磁兼容性（EMC）-第4-5部分：瞬态抗扰度试验
- IEC 61000-4-6:2013 电磁兼容性（EMC）-第4-6部分：无线电频率（RF）抗扰度试验