IEC TR 62878-2-2:2015
Device embedded substrate - Part 2-2: Guidelines - Electrical testing
发布时间:2015-12-04 实施时间:


设备嵌入基板是现代电子设备中不可或缺的组成部分。设备嵌入基板的电气性能对整个设备的性能和可靠性有着至关重要的影响。因此,对设备嵌入基板进行电气测试是非常必要的。

IEC TR 62878-2-2:2015提供了设备嵌入基板电气测试的指南。该指南包括以下内容:

1. 测试目的和范围:该部分介绍了设备嵌入基板电气测试的目的和范围。其中包括测试的目的、测试的范围、测试的对象等。

2. 测试方法:该部分介绍了设备嵌入基板电气测试的方法。其中包括测试的步骤、测试的工具和设备、测试的环境等。

3. 测试参数:该部分介绍了设备嵌入基板电气测试的参数。其中包括测试的电气参数、测试的机械参数、测试的环境参数等。

4. 测试结果:该部分介绍了设备嵌入基板电气测试的结果。其中包括测试结果的分析、测试结果的评估、测试结果的报告等。

5. 测试标准:该部分介绍了设备嵌入基板电气测试的标准。其中包括国际标准、行业标准、企业标准等。

IEC TR 62878-2-2:2015指南的实施可以帮助企业和组织确保设备嵌入基板的电气性能符合预期的要求。同时,该指南还可以帮助企业和组织提高设备嵌入基板的生产效率和质量水平。

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