IEC 63003:2015
Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505™
发布时间:2015-12-14 实施时间:


随着电子产品的不断发展,电子测试技术也在不断进步。高密度、单层电子测试要求的通用测试接口引脚映射配置标准(IEC 63003:2015)就是一项针对这一需求的标准。

该标准的主要目的是提供一种通用的测试接口引脚映射配置,以满足高密度、单层电子测试的要求。该标准适用于使用IEEE Std 1505的测试系统。

在实际应用中,测试系统的互操作性和可靠性是非常重要的。如果测试系统之间的接口不兼容,就会导致测试数据的不准确和测试效率的降低。而使用通用的测试接口引脚映射配置可以有效地解决这一问题,提高测试系统的互操作性和可靠性。

该标准规定了测试接口引脚映射配置的要求,包括引脚编号、引脚名称、引脚类型、引脚功能等。这些要求可以帮助测试系统之间实现互操作性,同时也可以降低测试系统的成本和维护难度。

此外,该标准还规定了测试接口引脚的电气特性、机械特性、环境特性等要求。这些要求可以保证测试系统的可靠性和稳定性,同时也可以提高测试效率和测试精度。

总之,IEC 63003:2015是一项非常重要的标准,它可以提高测试系统的互操作性和可靠性,降低测试系统的成本和维护难度,提高测试效率和测试精度。在实际应用中,我们应该积极采用该标准,以提高测试系统的性能和可靠性。

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