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IEC 62047-25:2016

半导体器件-微电子机械系统器件-第25部分:基于硅的MEMS制造技术-微结合区域拉伸和剪切强度的测量方法

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area

标准号
IEC 62047-25:2016
发布日期
2016-08-29

以上信息收录于 2023 年,标准可能已经修订或废止,请以发布机构公布的最新版本为准。本页不提供标准原文。

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