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随着电子技术的不断发展，电子半导体器件在各个领域得到了广泛应用。然而，由于电子半导体器件的特殊性质，其长期存储会受到很多因素的影响，如湿度、温度、光照、氧化等。这些因素会导致电子半导体器件的性能下降，甚至失效。因此，为了保证电子半导体器件的质量和可靠性，需要对其进行长期存储，并制定相应的标准。

IEC 62435-1:2017标准规定了电子半导体器件长期存储的一般要求。该标准要求在存储期限内，电子半导体器件应能够保持其性能和可靠性。具体要求如下：

1. 存储条件：电子半导体器件应存放在符合要求的环境中，包括温度、湿度、光照等方面。存储环境应符合制造商的要求或标准规定的要求。

2. 存储期限：电子半导体器件的存储期限应符合制造商的要求或标准规定的要求。如果没有特别规定，存储期限应不超过2年。

3. 存储环境：电子半导体器件应存放在干燥、无尘、无腐蚀性气体的环境中。存储环境应定期检查和记录。

4. 存储设备：电子半导体器件应存放在符合要求的存储设备中，包括存储架、存储箱、存储柜等。存储设备应定期检查和记录。

5. 存储记录：应对电子半导体器件的存储情况进行记录，包括存储时间、存储环境、存储设备等方面的内容。存储记录应保存至少2年。

除了上述要求外，IEC 62435-1:2017标准还规定了电子半导体器件长期存储的其他方面，如存储前的处理、存储后的检验等。该标准的实施可以有效保证电子半导体器件的质量和可靠性，降低因长期存储而导致的性能下降和失效的风险。

相关标准：
- IEC 62435-2:2018 Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Packaging and storage requirements
- IEC 61709:2017 Electric components - Reliability - Reference conditions for failure rates and stress models for conversion
- IEC 60749-34:2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Steady-state temperature humidity bias life test
- IEC 60068-2-78:2012 Environmental testing - Part 2-78: Tests - Test Cab: Damp heat, steady state
- IEC 60068-2-30:2015 Environmental testing - Part 2-30: Tests - Test Db and guidance: Damp heat, cyclic (12 h + 12 h cycle)