EMC IC建模是一种用于描述集成电路EMI行为的技术。它可以帮助设计人员在设计阶段预测集成电路的EMI性能，并在测试阶段验证集成电路的EMI性能。EMC IC建模可以提高集成电路的EMI兼容性，减少EMI问题的出现，从而提高产品的可靠性和稳定性。

IEC 62433-2:2017主要描述了集成电路的传导发射建模。传导发射是指集成电路在工作时产生的电磁辐射和传导干扰。传导发射建模是指将集成电路的传导发射特性建模为电路模型，以便进行EMI行为仿真。传导发射建模可以帮助设计人员预测集成电路的传导发射性能，并在设计阶段优化集成电路的传导发射性能。

IEC 62433-2:2017标准中描述了传导发射建模的基本原理和方法。传导发射建模的基本原理是将集成电路的传导发射特性建模为电路模型，然后将该电路模型与其他电路模型进行组合，以便进行EMI行为仿真。传导发射建模的方法包括测量、仿真和统计分析。测量是指通过实验测量集成电路的传导发射特性，以获得传导发射建模所需的数据。仿真是指使用电路仿真软件对集成电路的传导发射特性进行建模和仿真。统计分析是指对传导发射建模结果进行统计分析，以评估集成电路的EMI性能。

IEC 62433-2:2017标准还描述了传导发射建模的应用。传导发射建模可以应用于集成电路的设计和测试，以及EMI行为仿真的相关领域。在集成电路的设计阶段，传导发射建模可以帮助设计人员预测集成电路的传导发射性能，并在设计阶段优化集成电路的传导发射性能。在集成电路的测试阶段，传导发射建模可以帮助测试人员验证集成电路的传导发射性能。在EMI行为仿真的相关领域，传导发射建模可以帮助仿真人员预测集成电路的EMI性能，并优化仿真结果。

相关标准
- IEC 62433-1:2014 EMC IC建模-第1部分：通用原则和方法
- IEC 62433-3:2017 EMC IC建模-第3部分：用于EMI行为仿真的集成电路模型-辐射发射建模（ICEM-RE）
- IEC 61000-4-2:2008 电磁兼容性（EMC）-第4-2部分：静电放电（ESD）的试验和测量技术
- IEC 61000-4-3:2006 电磁兼容性（EMC）-第4-3部分：辐射性电磁场的试验和测量技术
- IEC 61000-4-6:2013 电磁兼容性（EMC）-第4-6部分：传导性干扰的试验和测量技术