IEC 60747-4:2007/AMD1:2017是一项国际标准，适用于微波二极管和晶体管等离散器件。这些器件通常用于高频率和微波电路中，如雷达、通信、卫星和导航等领域。该标准规定了这些器件的术语、定义、符号、分类、性能、试验方法、封装和标记等方面的要求，以确保它们的可靠性和稳定性。

在术语和定义方面，该标准规定了一些常用的术语和定义，如微波二极管、晶体管、放大器、调制器、检波器、射频、直流等。这些术语和定义的准确性和一致性对于理解和应用该标准至关重要。

在符号和分类方面，该标准规定了一些符号和分类方法，如器件类型、极性、封装形式、工作温度等。这些符号和分类方法的准确性和一致性对于选择和应用这些器件至关重要。

在性能和试验方法方面，该标准规定了一些性能指标和试验方法，如最大工作频率、最大功率、最小噪声系数、最小增益、最小反向隔离度等。这些性能指标和试验方法的准确性和一致性对于评估和比较这些器件至关重要。

在封装和标记方面，该标准规定了一些封装形式和标记要求，如引脚排列、引脚编号、封装材料、标记内容等。这些封装形式和标记要求的准确性和一致性对于识别和应用这些器件至关重要。

此外，该标准还包括了一些额外的要求，如器件的可靠性、稳定性和环境适应性等。这些额外的要求的准确性和一致性对于确保这些器件的可靠性和稳定性至关重要。

总之，IEC 60747-4:2007/AMD1:2017是一项关于离散器件中的微波二极管和晶体管的国际标准，规定了这些器件的术语、定义、符号、分类、性能、试验方法、封装和标记等方面的要求，以确保它们的可靠性和稳定性。该标准的准确性和一致性对于选择、应用和评估这些器件至关重要。

相关标准
- IEC 60747-1:2006 半导体器件-离散器件-第1部分：总则
- IEC 60747-2:2006 半导体器件-离散器件-第2部分：晶体管
- IEC 60747-3:2006 半导体器件-离散器件-第3部分：二极管
- IEC 60747-5:2006 半导体器件-离散器件-第5部分：光电器件
- IEC 60747-6:2006 半导体器件-离散器件-第6部分：传感器