光纤几何测试装置是用于测量光纤端面几何参数的一种测试设备。光纤端面几何参数包括了光纤端面的直径、圆度、凸度、斜度等参数。这些参数对于光纤的传输性能和连接性能都有着重要的影响。因此，准确地测量光纤端面几何参数对于保证光纤传输系统的性能至关重要。

光纤几何测试装置的测试结果的准确性和可重复性是保证光纤传输系统性能的关键。为了确保测试结果的准确性和可重复性，需要对光纤几何测试装置进行校准。IEC 61745:2017规定了光纤几何测试装置端面图像分析校准程序的要求，以确保校准结果的准确性和可重复性。

IEC 61745:2017规定了校准程序的要求、校准装置的要求、校准样品的要求、校准程序的步骤和校准结果的评估等内容。校准程序的要求包括了校准程序的可重复性、准确性和可追溯性等要求。校准装置的要求包括了校准装置的分辨率、灵敏度和稳定性等要求。校准样品的要求包括了校准样品的形状、尺寸和表面质量等要求。校准程序的步骤包括了校准前的准备工作、校准程序的执行和校准结果的记录等步骤。校准结果的评估包括了校准结果的分析和校准结果的报告等内容。

IEC 61745:2017标准的实施可以提高光纤几何测试装置的测试结果的准确性和可重复性，从而保证光纤传输系统的性能。该标准适用于光纤几何测试装置的制造商、用户和检测机构等。

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