微波集成电路是一种在微波频段内工作的集成电路，通常用于无线通信、雷达、卫星通信等领域。开关是微波集成电路中的重要组成部分，用于控制信号的传输和阻断。因此，开关的性能和可靠性对整个微波集成电路的性能和可靠性都有着至关重要的影响。

IEC 60747-16-4:2004/AMD2:2017标准规定了微波集成电路中开关的性能要求，包括开关的工作频率、插入损耗、隔离度、反射损耗等指标。此外，标准还规定了开关的测试方法，包括测试设备、测试条件、测试步骤等内容。通过这些测试方法，可以对开关的性能进行全面的评估和验证。

除了性能要求和测试方法，IEC 60747-16-4:2004/AMD2:2017标准还规定了开关的封装和标记要求。封装是指将开关芯片封装在外壳中，以保护芯片并方便安装和使用。标准规定了封装的材料、尺寸、引脚排列等要求。标记是指在开关外壳上标注相关信息，以便用户识别和使用。标准规定了标记的内容、位置、字体大小等要求。

总之，IEC 60747-16-4:2004/AMD2:2017标准对微波集成电路中的开关进行了全面的规范和要求，旨在确保开关的质量和可靠性，提高微波集成电路的性能和可靠性。

相关标准
- IEC 60747-16-1:2001/AMD1:2017 半导体器件标准 - 第16-1部分：微波集成电路 - 一般规定
- IEC 60747-16-2:2001/AMD1:2017 半导体器件标准 - 第16-2部分：微波集成电路 - 放大器
- IEC 60747-16-3:2001/AMD1:2017 半导体器件标准 - 第16-3部分：微波集成电路 - 混频器
- IEC 60747-16-5:2001/AMD1:2017 半导体器件标准 - 第16-5部分：微波集成电路 - 振荡器
- IEC 60747-16-6:2001/AMD1:2017 半导体器件标准 - 第16-6部分：微波集成电路 - 检波器