半导体器件是现代电子产品中不可或缺的组成部分，其性能和可靠性对电子产品的质量和寿命有着至关重要的影响。静电放电（ESD）是半导体器件在制造、运输、安装和使用过程中最常见的故障原因之一。因此，对半导体器件的ESD敏感性进行测试和评估是非常必要的。

IEC 60749-26:2018标准主要介绍了人体模型（HBM）测试方法。人体模型是一种模拟人体静电放电的测试方法，其测试条件和波形与实际情况相似。该标准规定了测试设备、测试程序、测试条件和测试结果的评估方法，以确保测试结果的准确性和可重复性。

测试设备包括ESD发生器、测试夹具、测试仪器等。测试程序包括测试前的准备工作、测试过程中的操作步骤和测试后的数据处理。测试条件包括测试环境、测试温度、湿度等。测试结果的评估方法包括ESD敏感性等级的确定、测试结果的统计分析等。

该标准还规定了测试结果的报告要求，包括测试日期、测试设备、测试程序、测试条件、测试结果等。测试结果应该能够清晰地反映出半导体器件的ESD敏感性，以便制造商和用户能够根据测试结果进行合理的选择和使用。

总之，IEC 60749-26:2018标准为半导体器件的ESD敏感性测试提供了详细的测试方法和评估标准，对于保证半导体器件的质量和可靠性具有重要的意义。

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