电子元器件是现代电子技术的基础，广泛应用于通信、计算机、医疗、航空航天等领域。随着电子元器件的不断发展，其性能和可靠性要求也越来越高。在电子元器件的生产、运输、存储和使用过程中，可能会受到各种因素的影响，如温度、湿度、氧化、辐射等，这些因素可能会导致电子元器件的性能和可靠性下降，甚至失效。因此，对于电子元器件的长期存储，需要制定相应的标准和要求，以确保其性能和可靠性不受影响。

IEC 62435-4:2018标准规定了电子半导体器件的长期存储要求，包括存储环境、存储期限、存储条件、存储期间的监测和记录等方面的要求。其中，存储环境包括温度、湿度、氧化、辐射等因素，存储期限根据不同的器件类型和存储条件而定，存储条件包括包装、密封、防潮、防尘等措施，存储期间的监测和记录包括对存储环境、器件状态等进行定期检查和记录。

在实际应用中，电子元器件的长期存储需要根据具体情况进行制定和执行。例如，在存储环境方面，应根据不同的器件类型和存储条件确定合适的温度、湿度等参数，以确保器件不受损害；在存储期限方面，应根据器件的使用情况和存储条件确定合适的存储期限，以避免器件失效；在存储条件方面，应采取适当的包装、密封、防潮、防尘等措施，以保护器件不受外界环境的影响；在存储期间的监测和记录方面，应定期对存储环境、器件状态等进行检查和记录，以及时发现和解决问题。

总之，IEC 62435-4:2018标准为电子半导体器件的长期存储提供了详细的要求和指导，有助于保障电子元器件的性能和可靠性，提高其使用寿命和安全性。

相关标准
- IEC 62435-1:2018 电子元器件-电子半导体器件的长期存储-第1部分：总则
- IEC 62435-2:2018 电子元器件-电子半导体器件的长期存储-第2部分：存储方法
- IEC 62435-3:2018 电子元器件-电子半导体器件的长期存储-第3部分：存储期限
- IEC 61709:2017 电子元器件-可靠性试验方法
- IEC 60068-2-14:2009 环境试验-第2部分：试验Nb：温度变化试验