IEC TR 62240-2:2018
Process management for avionics – Electronic components capability in operation – Part 2: Semiconductor microcircuit lifetime
发布时间:2018-06-18 实施时间:


航空电子是一项高度复杂和高度安全的领域,需要使用高质量和可靠的电子元件。半导体微电路是航空电子中最常用的电子元件之一,因此其可靠性和稳定性对于航空电子的安全和性能至关重要。IEC TR 62240-2:2018标准旨在确保半导体微电路在使用过程中的能力和寿命,以满足航空电子的要求。

该标准要求对半导体微电路进行全面的测试和评估,以确定其在使用过程中的可靠性和稳定性。测试和评估的内容包括但不限于以下几个方面:

1. 温度和湿度测试:在不同的温度和湿度条件下测试半导体微电路的性能和寿命。

2. 电压和电流测试:测试半导体微电路在不同电压和电流条件下的性能和寿命。

3. 机械测试:测试半导体微电路在不同机械条件下的性能和寿命,例如振动、冲击等。

4. 放射性测试:测试半导体微电路在放射性环境下的性能和寿命。

5. 其他测试:根据需要进行其他测试,例如EMC测试、ESD测试等。

通过对半导体微电路进行全面的测试和评估,可以确定其在使用过程中的能力和寿命。这有助于确保航空电子系统的可靠性和稳定性,提高其安全性和性能。

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