IEC 62047-34:2019
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
发布时间:2019-04-05 实施时间:


随着科技的不断发展,微电子机械系统(MEMS)技术在各个领域得到了广泛的应用。MEMS压阻式压力传感器是MEMS技术的一种应用,它可以测量压力变化并将其转换为电信号输出。在工业、医疗、汽车等领域,MEMS压阻式压力传感器都有着广泛的应用。为了保证MEMS压阻式压力传感器的质量和性能,需要对其进行测试。IEC 62047-34:2019标准规定了晶片上MEMS压阻式压力传感器的测试方法。

本标准主要包括以下内容:

1. 压力灵敏元件的电学测试:包括电阻测试、电容测试、电压测试等。这些测试可以检测压力灵敏元件的电学性能,如电阻值、电容值、灵敏度等。

2. 压力灵敏元件的机械测试:包括压力测试、振动测试、冲击测试等。这些测试可以检测压力灵敏元件的机械性能,如灵敏度、线性度、稳定性等。

3. 环境测试:包括温度测试、湿度测试、气压测试等。这些测试可以检测压力灵敏元件在不同环境下的性能,如温度漂移、湿度敏感度等。

4. 测试设备的要求:包括测试仪器的精度、分辨率、稳定性等要求。这些要求可以保证测试结果的准确性和可靠性。

5. 测试结果的分析方法:包括数据处理、结果分析、误差分析等。这些方法可以对测试结果进行分析和评估,以确定MEMS压阻式压力传感器的性能和质量。

本标准的实施可以保证MEMS压阻式压力传感器的质量和性能,提高其在各个领域的应用价值。同时,本标准也为MEMS压阻式压力传感器的生产和测试提供了技术支持和指导。

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