IEC 60851-2:2009/AMD2:2019标准规定了测量绕线尺寸的方法和要求，包括绕线的直径、圆度、截面积、绝缘层厚度等参数。该标准要求使用精密测量仪器进行测量，以确保测量结果的准确性和可重复性。同时，该标准还规定了测量绕线尺寸的环境条件和测试方法，以确保测量结果的可靠性和一致性。

该标准适用于各种类型的绕线，包括铜、铝、镀锡铜、镀锡铝等材料制成的绕线。绕线的尺寸是绕线质量和性能的重要指标，对于绕线的制造和应用具有重要意义。因此，该标准的实施可以有效提高绕线的质量和性能，促进绕线行业的发展。

IEC 60851-2:2009/AMD2:2019标准的实施需要使用一些特殊的测量仪器和设备，包括显微镜、卡尺、测微计、显微投影仪等。这些设备需要经过校准和检验，以确保其测量结果的准确性和可靠性。同时，该标准还要求对测量结果进行统计分析和处理，以确定绕线尺寸的平均值、标准偏差、极差等参数。

除了测量绕线尺寸外，IEC 60851-2:2009/AMD2:2019标准还规定了其他一些测试方法，包括绕线的拉伸强度、电阻率、绝缘电阻等参数的测试方法。这些测试方法可以帮助评估绕线的质量和性能，为绕线的制造和应用提供参考依据。

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