石墨烯是一种由碳原子构成的单层薄膜材料，具有优异的导电性、热导性和机械性能，被广泛应用于电子、能源、生物医学等领域。然而，石墨烯材料的制备和应用过程中存在着一些问题，如材料的质量不稳定、性能不一致等，这些问题严重制约了石墨烯材料的应用。

为了解决这些问题，需要对石墨烯材料进行可靠的质量控制。IEC TS 62607-6-1:2020标准提供了一种测量石墨烯材料体积电阻率的方法，采用四探针法进行测量。四探针法是一种常用的电学测量方法，可以准确地测量材料的电阻率和电导率。

该标准规定了石墨烯材料体积电阻率的测量方法和要求，包括样品的制备、测量仪器的选择和校准、测量条件的设定等。在测量过程中，需要使用四个电极对样品进行测量，其中两个电极用于施加电流，另外两个电极用于测量电压。通过测量电流和电压的关系，可以计算出样品的体积电阻率。

该标准的实施可以有效地提高石墨烯材料的质量和性能，为石墨烯材料的生产和应用提供可靠的质量控制方法。

相关标准
- IEC TS 62607-6-2:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-2: Graphene-based material - Sheet resistance: four probe method
- IEC TS 62607-6-3:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-3: Graphene-based material - Thickness: optical method
- IEC TS 62607-6-4:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-4: Graphene-based material - Purity: Raman spectroscopy
- IEC TS 62607-6-5:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-5: Graphene-based material - Surface area: BET method
- IEC TS 62607-6-6:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-6: Graphene-based material - Oxygen content: X-ray photoelectron spectroscopy