纳米制造是一项新兴的技术，涉及到制造和处理纳米级别的材料和器件。发光纳米材料是纳米制造中的一种重要材料，具有广泛的应用前景。半导体量子点是一种常见的发光纳米材料，具有优异的光电性能和荧光特性。荧光寿命是半导体量子点的一个重要性能指标，可以反映其荧光特性和稳定性。

IEC TS 62607-3-3:2020标准主要针对半导体量子点的荧光寿命进行测量。该标准使用时间相关单光子计数（TCSPC）技术，通过测量荧光寿命来确定半导体量子点的性能。TCSPC技术是一种高精度的荧光寿命测量方法，可以实现纳秒级别的时间分辨率。该技术通过测量荧光光子的到达时间来确定荧光寿命，具有高精度、高灵敏度和高可靠性等优点。

IEC TS 62607-3-3:2020标准规定了半导体量子点荧光寿命测量的具体步骤和要求。其中包括样品制备、荧光寿命测量、数据处理和结果分析等方面。该标准要求在荧光寿命测量中应该采用TCSPC技术，并且要求测量结果应该具有一定的精度和可重复性。此外，该标准还规定了荧光寿命测量中的一些注意事项和误差来源，以确保测量结果的准确性和可靠性。

IEC TS 62607-3-3:2020标准的实施可以为纳米制造中半导体量子点的荧光寿命测量提供标准化的方法和要求，有助于提高荧光寿命测量的精度和可靠性。此外，该标准还可以为相关领域的研究和开发提供参考和指导，促进发光纳米材料的应用和发展。

相关标准
- IEC TS 62607-3-1:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-1: Luminescent nanomaterials - Determination of photoluminescence quantum yield of semiconductor quantum dots
- IEC TS 62607-3-2:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-2: Luminescent nanomaterials - Determination of photoluminescence excitation spectra of semiconductor quantum dots
- IEC TS 62607-4-1:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 4-1: Luminescent nanomaterials - Determination of particle size distribution of semiconductor quantum dots by transmission electron microscopy
- IEC TS 62607-4-2:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 4-2: Luminescent nanomaterials - Determination of particle size distribution of semiconductor quantum dots by dynamic light scattering
- IEC TS 62607-5-1:2020 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 5-1: Luminescent nanomaterials - Determination of elemental impurities in semiconductor quantum dots by inductively coupled plasma mass spectrometry