IEC 60747-8:2010+AMD1:2021 CSV
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors
发布时间:2021-06-25 实施时间:


场效应晶体管是一种重要的半导体器件,广泛应用于电子、通信、计算机、汽车、航空航天等领域。为了保证场效应晶体管的质量和可靠性,需要制定相应的标准来规范其设计、制造、测试和应用。IEC 60747-8:2010+AMD1:2021 CSV就是这样一项标准。

该标准首先对场效应晶体管的术语、定义、符号进行了规定。例如,场效应晶体管的定义为一种半导体器件,其控制电压可以改变其导通电阻,从而实现电流的控制。此外,该标准还规定了场效应晶体管的分类方法,包括按控制电压、按导通电阻、按工作频率等分类。

在性能方面,该标准规定了场效应晶体管的静态和动态特性。其中,静态特性包括漏电流、阈值电压、最大漏电流、最大耗散功率等指标;动态特性包括开关时间、开关电容、反向传输电容等指标。这些指标对于场效应晶体管的应用和性能评估非常重要。

为了保证场效应晶体管的质量和可靠性,该标准还规定了一系列试验方法。例如,对于静态特性的测试,可以采用直流参数测试、恒流源测试、恒压源测试等方法;对于动态特性的测试,可以采用脉冲测试、阶跃响应测试等方法。这些试验方法可以帮助制造商和用户对场效应晶体管进行质量控制和性能评估。

除了性能和试验方法,该标准还规定了场效应晶体管的封装和标记要求。例如,场效应晶体管的引脚排列、尺寸、材料、焊接方式等都需要符合相应的标准。此外,场效应晶体管的标记也需要包括型号、生产厂商、批次号、生产日期等信息,以便于追溯和管理。

总之,IEC 60747-8:2010+AMD1:2021 CSV是一项非常重要的标准,它规定了场效应晶体管的各种要求,对于保证场效应晶体管的质量和可靠性具有重要意义。

相关标准
- IEC 60747-1:2017 CSV 半导体器件-离散器件-第1部分:总则
- IEC 60747-2:2017 CSV 半导体器件-离散器件-第2部分:二极管
- IEC 60747-3:2017 CSV 半导体器件-离散器件-第3部分:晶闸管
- IEC 60747-4:2017 CSV 半导体器件-离散器件-第4部分:三极管
- IEC 60747-5:2017 CSV 半导体器件-离散器件-第5部分:光电器件