印刷电子是一种新兴的电子制造技术，它利用印刷工艺将电子元器件印刷在柔性基底上，具有成本低、生产效率高、制造周期短等优点。其中，薄膜晶体管是印刷电子中的重要元器件之一，广泛应用于柔性显示、传感器、智能卡等领域。薄膜晶体管的性能直接影响到印刷电子产品的质量和可靠性，因此需要对其进行质量评估。

薄膜晶体管的接触电阻是影响其性能的重要因素之一。传统的接触电阻测量方法主要是四探针法，但该方法需要专业的测量设备和技术，且测量结果易受到环境因素的影响。因此，需要一种简单、快速、准确的接触电阻测量方法，以满足印刷电子中薄膜晶体管的质量评估需求。

IEC 62899-503-3:2021标准规定了一种新的接触电阻测量方法-传输长度法。该方法利用薄膜晶体管的传输长度和电流-电压特性曲线，通过计算得到接触电阻值。该方法不需要专业的测量设备和技术，且测量结果准确可靠，适用于印刷电子中薄膜晶体管的质量评估。

该标准规定了传输长度法的测量步骤、测量设备、测量程序和数据处理方法等方面的要求。其中，测量步骤包括样品制备、测量电路搭建、电流-电压特性曲线测量和数据处理等。测量设备包括电源、万用表、示波器等。测量程序包括电流-电压特性曲线测量程序和数据处理程序等。数据处理方法包括传输长度计算、接触电阻计算和数据分析等。

该标准的实施可以有效提高印刷电子中薄膜晶体管的质量评估水平，为印刷电子产品的研发和生产提供技术支持。

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