IEC TS 62607-9-1:2021
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 9-1: Traceable spatially resolved nano-scale stray magnetic field measurements - Magnetic force microscopy
发布时间:2021-10-14 实施时间:


纳米制造是一种新兴的制造技术,它利用纳米级材料和纳米级加工技术制造出具有特殊性能和功能的产品。然而,由于纳米级材料和加工技术的特殊性,纳米制造过程中存在着许多关键控制特性,如纳米级杂散磁场。这些关键控制特性对产品的质量和可靠性具有重要影响,因此需要进行精确的测量和控制。

IEC TS 62607-9-1:2021标准规定了纳米级杂散磁场测量的方法和技术要求,主要采用磁力显微镜技术进行测量。磁力显微镜是一种高分辨率的显微镜,可以在纳米级别下测量杂散磁场。标准规定了磁力显微镜的使用和校准要求,以确保测量结果的准确性和可靠性。

此外,标准还规定了测量结果的可追溯性要求。可追溯性是指测量结果可以追溯到国际标准或国家标准,以确保测量结果的准确性和可靠性。标准规定了测量结果的记录和报告要求,以便进行追溯性验证。

总之,IEC TS 62607-9-1:2021标准为纳米制造过程中的关键控制特性提供了指导,特别是针对纳米级杂散磁场测量和磁力显微镜技术。标准规定了测量方法和技术要求,以及测量结果的可追溯性要求,以确保产品的质量和可靠性。

相关标准
- IEC 62607-1:2014 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 1: Vocabulary
- IEC 62607-2:2014 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 2: Specification of control charts for measuring the size and size distribution of nanoparticles using transmission electron microscopy
- IEC 62607-3:2014 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3: Specification of control charts for measuring the size and size distribution of nanoparticles using atomic force microscopy
- IEC 62607-4:2014 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 4: Specification of control charts for measuring the size and size distribution of nanoparticles using dynamic light scattering
- IEC 62607-5:2014 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 5: Specification of control charts for measuring the size and size distribution of nanoparticles using X-ray diffraction