石墨烯是一种由碳原子组成的单层薄膜材料，具有优异的电学、热学和力学性能，因此在电子、光电子、能源等领域具有广泛的应用前景。然而，石墨烯的制备和质量控制一直是一个难题，因为其单层结构和高表面积使其容易受到污染和缺陷的影响，从而影响其性能和稳定性。

为了解决这个问题，IEC TS 62607-6-10:2021标准提出了石墨烯材料的关键控制特性，其中包括片电阻的测量方法。片电阻是石墨烯材料的一个重要性能指标，它反映了材料的电导率和电阻率。太赫兹时域光谱技术是一种非接触、无损的测量方法，可以在太赫兹频率范围内测量材料的电学性能，包括片电阻、电容和介电常数等。

IEC TS 62607-6-10:2021标准规定了石墨烯材料片电阻的测量方法，包括样品制备、测量装置、测量步骤和数据处理等。具体来说，测量步骤包括样品制备、太赫兹时域光谱测量、数据处理和结果分析等。在样品制备方面，标准要求样品必须是单层石墨烯，并且表面必须干净、平整、无氧化和无缺陷。在测量装置方面，标准要求使用太赫兹时域光谱仪进行测量，并且要对仪器进行校准和验证。

通过IEC TS 62607-6-10:2021标准的实施，可以有效地控制石墨烯材料的质量和性能，提高其应用的可靠性和稳定性。同时，该标准也为石墨烯材料的生产和应用提供了技术支持和标准化指导。

相关标准
- IEC TS 62607-6-1:2015 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-1: Graphene-based material - Thickness measurement
- IEC TS 62607-6-2:2015 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-2: Graphene-based material - Raman spectroscopy
- IEC TS 62607-6-3:2015 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-3: Graphene-based material - Scanning electron microscopy
- IEC TS 62607-6-4:2015 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-4: Graphene-based material - Transmission electron microscopy
- IEC TS 62607-6-5:2015 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-5: Graphene-based material - X-ray photoelectron spectroscopy