IEC GUIDE 102:1996规定了电子元器件质量评估的规范结构，包括以下要素：

1. 质量保证计划：制定质量保证计划是确保电子元器件质量的关键步骤。质量保证计划应包括质量目标、质量保证措施、质量保证计划的实施和监控等内容。

2. 质量保证文件：质量保证文件是记录电子元器件质量保证活动的文件。质量保证文件应包括质量保证计划、质量保证手册、质量保证程序、质量保证记录等内容。

3. 质量保证审核：质量保证审核是评估电子元器件质量保证计划和文件的有效性和适用性的过程。质量保证审核应包括内部审核和外部审核。

4. 质量保证测试：质量保证测试是评估电子元器件质量的过程。质量保证测试应包括可靠性测试、环境测试、功能测试等。

5. 质量保证记录：质量保证记录是记录电子元器件质量保证活动的文件。质量保证记录应包括质量保证测试记录、质量保证审核记录、质量保证问题记录等。

IEC GUIDE 102:1996还规定了电子元器件资格批准和能力批准的要求。电子元器件资格批准是指通过测试和评估，确认电子元器件符合规定的技术要求和质量标准。电子元器件能力批准是指通过测试和评估，确认电子元器件生产商具有生产符合规定的技术要求和质量标准的电子元器件的能力。

IEC GUIDE 102:1996还规定了电子元器件质量评估的基本原则，包括：

1. 以客户为中心：电子元器件质量评估应以客户需求为中心，确保电子元器件符合客户要求。

2. 持续改进：电子元器件质量评估应不断改进，以提高电子元器件的质量和可靠性。

3. 全员参与：电子元器件质量评估应全员参与，确保电子元器件质量的持续改进。

4. 管理负责：电子元器件质量评估应由管理层负责，确保电子元器件质量的持续改进。

相关标准
- IEC 60068-2-1:2018 环境试验 - 第2-1部分：冷度试验
- IEC 60068-2-2:2019 环境试验 - 第2-2部分：热度试验
- IEC 60068-2-30:2015 环境试验 - 第2-30部分：太阳辐射试验
- IEC 60068-2-78:2012 环境试验 - 第2-78部分：振动试验 - 振动、冲击和自由落体试验设备的选择和使用
- IEC 60747-1:2018 半导体器件 - 一般规范 - 第1部分：术语和定义