光纤几何测试装置是一种用于测量光纤端面几何参数的设备，包括直径、圆度、偏心度、凸度、切角等。这些参数对于光纤的传输性能和连接质量至关重要。端面图像分析是一种常用的测量方法，通过对光纤端面图像进行分析，可以得到准确的几何参数。

然而，由于光纤几何测试装置的制造和使用过程中存在一定的误差，因此需要对端面图像分析程序进行校准，以确保测试结果的准确性和可重复性。IEC 61745:1998规定了一种用于校准端面图像分析程序的方法，包括以下步骤：

1. 准备标准样品。标准样品应具有已知的几何参数，并且与待测样品的材料和结构相同。标准样品应在光纤几何测试装置中进行测量，并记录其端面图像。

2. 分析标准样品的端面图像。使用端面图像分析程序对标准样品的端面图像进行分析，得到其几何参数。

3. 计算校准系数。根据标准样品的已知几何参数和分析结果，计算出校准系数。

4. 校准待测样品。使用端面图像分析程序对待测样品的端面图像进行分析，并根据校准系数计算出其几何参数。

5. 验证校准结果。使用其他方法对待测样品进行测量，并与校准结果进行比较，以验证校准的准确性和可重复性。

IEC 61745:1998标准的实施可以提高光纤几何测试装置的测量精度和可靠性，保证光纤连接的质量和传输性能。该标准已被广泛应用于光纤通信、光纤传感等领域。

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